偏振精析,光谱洞察
高性能圆偏振光谱仪CirCLa,融合先进光学架构与精密检测技术,可精准完成圆偏振光信号采集、光谱分析与手性物质表征。设备灵敏度高、光谱范围广、抗干扰能力强,广泛应用于光学材料、生物医药、高分子化学、晶体研究、光学器件检测等领域。从基础科研到工业量产质检,全程提供稳定、精准的检测数据,助力行业突破技术瓶颈,赋能科研创新与品质升级
💡 发光光谱强度通常在 光子计数级别 ( < 1×10⁷ photons/s )
当光强微弱时(典型样品发射 < 10⁸ photons/s),光子计数方式的信噪比(S/N)超越任何模拟方式。
计数直接为非负整数,无负信号问题
IL和IR独立计数,Glum = (IL - IR)/(IL+IR) 直接算出,无需校正
无时常数影响 / 无波长扫描残留效应
易区分暗电流和杂散光,测量准确
DC信号易受漂移/电噪声影响,可能产生负值
IL+IR与IL-IR增益不同,需要复杂G值校正
锁相时间常数导致拖尾、波谱畸变
暗电流与杂散光判断困难
| 测量波长范围 | 280 ~ 800 nm |
| 波长步进 | 0.1 nm ~ 20 nm |
| 光谱分辨率 | 1 nm ~ 36 nm(手动可调狭缝) |
| 检测用分光器 | Czerny-Turner型 衍射光栅分光器 |
| 检测器 | 光子计数用光电倍增管(PMT) |
| 激发光源 | 150 W 氙灯 + 带通滤光片(标配最多5个波长,可追加,一键更换) |
| 光弹调制器 (PEM) | Hinds Instruments 50 kHz |
| 测量方式 | 数字锁相 (光子计数) — 无需模拟锁相放大器 |
| G值校正 | 不需要,直接计算 |
| 样品支架 | 1 cm 方形比色皿(无温控)、薄膜支架 |
| 可选附件 | 追加激发波长;温控支架 (CoolSpeK/CoolLinK, -80℃~100℃) |
分别计数左旋(IL)与右旋(IR)圆偏振光子的数量,glum值直接由原始计数得出,无需任何增益校正或后处理。
每个波长独立采集光子计数,不依赖于前一个波长的信号,准确表征尖锐光谱变化。
在<10⁷ photons/s 条件下仍保持统计噪声极限,信噪比远超模拟直流方式。

